Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
9 из 9
Доступно
1 из 1
Доступно
2 из 2
Доступно
1 из 1
Доступно
39 из 39
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Бердичевский, Б. Е.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Доступно
9 из 9
Книга
Бердичевский, Б. Е.
Вопросы обеспечения надежности радиоэлектронной аппаратуры при разработке
Советское радио, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Кх
Бердичевский, Б. Е.
Вопросы обеспечения надежности радиоэлектронной аппаратуры при разработке
Советское радио, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Кх
Заказать 
На полку Доступно
1 из 1
Доступно
2 из 2
Книга
Даммер, А.
Испытание радиоэлектронной аппаратуры и материалов на воздействие климатических и механических ус...
Энергия, 1965 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Даммер, А.
Испытание радиоэлектронной аппаратуры и материалов на воздействие климатических и механических ус...
Энергия, 1965 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Доступно
1 из 1
Книга
Бердичевский, Б. Е.
Методы сопоставления структурных схем надежности радиоэлектронной аппаратуры: учебное пособие
[б.и.], 1971 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Бердичевский, Б. Е.
Методы сопоставления структурных схем надежности радиоэлектронной аппаратуры: учебное пособие
[б.и.], 1971 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Доступно
39 из 39
Книга
Неразрушающий контроль элементов и узлов радиоэлектронной аппаратуры
Советское радио, 1976 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Кх
Неразрушающий контроль элементов и узлов радиоэлектронной аппаратуры
Советское радио, 1976 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Кх
Доступно
1 из 1
Книга
Бердичевский, Б. Е.
Оценка надежности аппаратуры автоматики. Методы оценки надежности в процессе разработки: [монография]
Машиностроение, 1966 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Бердичевский, Б. Е.
Оценка надежности аппаратуры автоматики. Методы оценки надежности в процессе разработки: [монография]
Машиностроение, 1966 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Доступно
1 из 1
Книга
Причины,механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов. Выпуск 2: материалы лекций
Знание, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Причины,механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов. Выпуск 2: материалы лекций
Знание, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Доступно
1 из 1