Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Доступно
3 из 3
Доступно
2 из 2
Доступно
4 из 4
Доступно
2 из 2
Доступно
3 из 3
Доступно
2 из 2
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
621.38 Ш962
Сортировать по: заглавиюдате издания

Экз. чит. зала
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...
1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...
1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Экз. чит. зала

Экз. чит. зала
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
3 из 3
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
2 из 2
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
4 из 4
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
2 из 2
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2003 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: Материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2003 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
3 из 3
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
2 из 2
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
1 из 1
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: [ посвящ. 50-летию кафедры Полупроводниковая электроника МЭИ(ТУ): материалы докладов]
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2005 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: [ посвящ. 50-летию кафедры Полупроводниковая электроника МЭИ(ТУ): материалы докладов]
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2005 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
1 из 1
Книга
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2004 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Шумовые и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология диагностика, технологи...: материалы докладов
Noise and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostics, technology, curriculum)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, 2004 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
1 из 1
Книга
Игнатьев, А. А.
Шумовые свойства ламп обратной волны со скрещенными полями
Изд-во Саратов. ун-та, 1983 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Игнатьев, А. А.
Шумовые свойства ламп обратной волны со скрещенными полями
Изд-во Саратов. ун-та, 1983 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх