Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Павлов Л. П. - Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы
Павлов Л. П. - Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы
Книга
Автор: Павлов Л. П.
Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы
1980 г.
ISBN отсутствует
Автор: Павлов Л. П.
Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы
1980 г.
ISBN отсутствует
Книга
УДК 621.315 П121
Павлов, Л. П.
Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы / Л. П. Павлов ; Ред. К. В. Шалимова ; Моск. энерг. ин-т (МЭИ) . – М . – 1980 . – 48 с.
621.315 П121
Тезаурус = ГАСНТИ 45.09.35
Тезаурус = Электротехника : электротехнические материалы : полупроводниковые
Тезаурус = Электротехника : электротехнические материалы : магнитные
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Методы исследования полупроводниковых материалов - доп
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл : Вариативная часть : Современные методы исследования поверхности полупроводников - осн
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Современные методы исследования поверхности полупроводников - осн
Уч.аб. - 31 экз.
Учз - 1 экз.
Кх - 3 экз.
УДК 621.315 П121
Павлов, Л. П.
Учебное пособие по курсу "Методы исследования полупроводниковых материалов": Оптические методы / Л. П. Павлов ; Ред. К. В. Шалимова ; Моск. энерг. ин-т (МЭИ) . – М . – 1980 . – 48 с.
621.315 П121
Тезаурус = ГАСНТИ 45.09.35
Тезаурус = Электротехника : электротехнические материалы : полупроводниковые
Тезаурус = Электротехника : электротехнические материалы : магнитные
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Методы исследования полупроводниковых материалов - доп
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл : Вариативная часть : Современные методы исследования поверхности полупроводников - осн
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Современные методы исследования поверхности полупроводников - осн
Уч.аб. - 31 экз.
Учз - 1 экз.
Кх - 3 экз.