Электронный каталог -Глудкин, О. П. - Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем- Absopac

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Глудкин, О. П. - Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем

Глудкин, О. П. - Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем

Доступно
60 из 61

Книга
Автор: Глудкин, О. П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов
Издательство: Энергия, 1980 г.
ISBN отсутствует

Заказать

На полку

Книга
УДК 621.396 Г551

Глудкин, О. П.
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. – М. : Энергия, 1980. – 360 с.

621.396 Г551

Тезаурус = ГАСНТИ 47.13.11
Тезаурус = ГАСНТИ 47.13.23
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства : полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и приборов микроэлектроники
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства : надежность радиоэлектронной аппаратуры и ее элементов

Ук-4544 Уч.аб.
Уч.аб. - 55 экз.
Учз - 1 экз.
Кх - 3 экз.
780274 Кх