Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Морозова, Н. К. - Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых мате...
Морозова, Н. К. - Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых мате...
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
2 из 3
2 из 3
Книга
Автор: Морозова, Н. К.
Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых мате...
1989 г.
ISBN отсутствует
Автор: Морозова, Н. К.
Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых мате...
1989 г.
ISBN отсутствует
Книга
УДК 621.38 М801
Морозова, Н. К.
Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых материалов": Диффузия, окисление термообработка и методы световой микроскопии для контроля качества полупроводниковых материалов / Н. К. Морозова, В. А. Дмитриев ; Ред. К. В. Шалимова ; Моск. энерг. ин-т (МЭИ). – 1989. – 52 с.
621.38 М801
Тезаурус = ГАСНТИ 47.09.29
Тезаурус = ГАСНТИ 47.13
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : материалы : полупроводниковые
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Методы расчета характеристик светового поля - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Световое поле - доп
Учз - 1 экз.
Кх - 2 экз.
УДК 621.38 М801
Морозова, Н. К.
Лабораторный практикум по курсу "Технология и методы исследования структур полупроводниковых материалов": Диффузия, окисление термообработка и методы световой микроскопии для контроля качества полупроводниковых материалов / Н. К. Морозова, В. А. Дмитриев ; Ред. К. В. Шалимова ; Моск. энерг. ин-т (МЭИ). – 1989. – 52 с.
621.38 М801
Тезаурус = ГАСНТИ 47.09.29
Тезаурус = ГАСНТИ 47.13
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : материалы : полупроводниковые
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Методы расчета характеристик светового поля - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Световое поле - доп
Учз - 1 экз.
Кх - 2 экз.