Электронный каталог

Отчет
18374с

Исследование явлений вызванных разогревом носителей в канале МДП-транзисторов и разработка методов контроля технологического процесса МДП СБИС, стойких к эффектам "горячих" носителей. Ч.1.Заключительный отчет : НИР / В. С. Солдатов, Моск. энерг. ин-т (МЭИ ТУ), Кафедра полупроводниковой электроники (ППЭ). – М. – 1999. – 42 с.


Тезаурус = ГАСНТИ 47.33
Тезаурус = ГАСНТИ 81.81.21
Тезаурус = ГАСНТИ 47.13.11
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : твердотельные приборы : транзисторы
Тезаурус = Проблемы технических и прикладных наук и отраслей экономики : контроль и управление качеством : контроль качества технологических процессов
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства : полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и приборов микроэлектроники

Кх - 1 экз.