Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Абрукин, Я. А. - Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ
Абрукин, Я. А. - Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Абрукин, Я. А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых Института точной механики и вычислительной техники им. С. А. Лебедева АН СССР
Издательство: [б. и.], 1976 г.
ISBN отсутствует
Автор: Абрукин, Я. А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых Института точной механики и вычислительной техники им. С. А. Лебедева АН СССР
Издательство: [б. и.], 1976 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
УДК 621.398 А169
Абрукин, Я. А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых Института точной механики и вычислительной техники им. С. А. Лебедева АН СССР / Я. А. Абрукин, Г. В. Кристовский, АН СССР. Ин-т точной механики и вычислит. техники. – Москва : [б. и.], 1976. – 17 с.
621.398 А169
Тезаурус = ГАСНТИ 50.11
Тезаурус = Автоматика. Вычислительная техника : запоминающие устройства
Кх - 1 экз.
УДК 621.398 А169
Абрукин, Я. А.
Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ : доклад на конференции молодых специалистов и ученых Института точной механики и вычислительной техники им. С. А. Лебедева АН СССР / Я. А. Абрукин, Г. В. Кристовский, АН СССР. Ин-т точной механики и вычислит. техники. – Москва : [б. и.], 1976. – 17 с.
621.398 А169
Тезаурус = ГАСНТИ 50.11
Тезаурус = Автоматика. Вычислительная техника : запоминающие устройства
Кх - 1 экз.