Электронный каталог

Книга
УДК 621.38 Е912

Ефимов, И. Е.
Надежность интегральных полупроводниковых схем / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов . – М. : Изд-во стандартов, 1969 . – 74 с. – (Надежность. Качество) .

621.38 Е912

Тезаурус = ГАСНТИ 47.41
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : радиоэлектронные схемы

602113 Кх