Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Долматова, Т. В. - Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов
Долматова, Т. В. - Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов
Книга
Автор: Долматова, Т. В.
Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов : материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля продукции
Издательство: Знание, 1978 г.
ISBN отсутствует
Автор: Долматова, Т. В.
Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов : материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля продукции
Издательство: Знание, 1978 г.
ISBN отсутствует
Книга
Долматова, Т. В.
Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов : материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля продукции / Т. В. Долматова ; науч. ред. Б. Е. Бердичевский ; Всесоюз. о-во "Знание", Политехнический музей . – М. : Знание, 1978 . – 46 с.
621.38 Д647
Тезаурус = ГАСНТИ 47.41
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : радиоэлектронные схемы
Кх - 1 экз.
Долматова, Т. В.
Физика надежности интегральных полупроводниковых систем. Выпуск 3. Методы анализа причин отказов : материалы лекций, прочитанных в Политехническом музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля продукции / Т. В. Долматова ; науч. ред. Б. Е. Бердичевский ; Всесоюз. о-во "Знание", Политехнический музей . – М. : Знание, 1978 . – 46 с.
621.38 Д647
Тезаурус = ГАСНТИ 47.41
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : радиоэлектронные схемы
Кх - 1 экз.