Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Антонов, В. А. - Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников
Антонов, В. А. - Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников

Доступно
42 из 43
42 из 43
Книга
Автор: Антонов, В. А.
Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников : учебное пособие по курсу "Методы исследования поверхности полупроводников" по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника"
Издательство: Изд-во МЭИ, 2020 г.
ISBN 978-5-7046-2237-6
Автор: Антонов, В. А.
Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников : учебное пособие по курсу "Методы исследования поверхности полупроводников" по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника"
Издательство: Изд-во МЭИ, 2020 г.
ISBN 978-5-7046-2237-6
Книга
УДК 537 А724
Антонов, В. А.
Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников : учебное пособие по курсу "Методы исследования поверхности полупроводников" по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" / В. А. Антонов, Нац. исслед. ун-т "МЭИ" (НИУ"МЭИ"). – Москва : Изд-во МЭИ, 2020. – 44 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=11097 (дата обращения: 05.03.2020). – ISBN 978-5-7046-2237-6.
537 А724
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Методы исследования поверхности полупроводников - доп
Кх - 3 экз.
Учз - 1 экз.
Бр-413 Уч.аб.
Уч.аб. - 38 экз.
УДК 537 А724
Антонов, В. А.
Методы исследования электронных процессов на поверхности полупроводников : учебное пособие по курсу "Методы исследования поверхности полупроводников" по направлению 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" / В. А. Антонов, Нац. исслед. ун-т "МЭИ" (НИУ"МЭИ"). – Москва : Изд-во МЭИ, 2020. – 44 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=11097 (дата обращения: 05.03.2020). – ISBN 978-5-7046-2237-6.
537 А724
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Методы исследования поверхности полупроводников - доп
Кх - 3 экз.
Учз - 1 экз.
Бр-413 Уч.аб.
Уч.аб. - 38 экз.