Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор:
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [сборник]
Серия: Труды ИОФАН
Издательство: Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [сборник]
Серия: Труды ИОФАН
Издательство: Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
Книга
УДК 54 Л175
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [сборник] / АН СССР ; отв. ред. А. А. Маненков. – М. : Наука, 1986. – 152 с. – (Труды ИОФАН ; Том 4).
54 Л175
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.29
Тезаурус = Химия : физическая : фотохимия, лазерохимия
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.33
Тезаурус = Физика : твердых тел : диэлектрики
881816 Кх
УДК 54 Л175
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках : [сборник] / АН СССР ; отв. ред. А. А. Маненков. – М. : Наука, 1986. – 152 с. – (Труды ИОФАН ; Том 4).
54 Л175
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.29
Тезаурус = Химия : физическая : фотохимия, лазерохимия
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.33
Тезаурус = Физика : твердых тел : диэлектрики
881816 Кх