Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Фелдман, Л. - Основы анализа поверхности и тонких пленок
Доступно
3 из 3
3 из 3
Книга
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Fundamentals of surface and thin film analysis
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
Автор: Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Fundamentals of surface and thin film analysis
Издательство: Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
УДК 539 Ф374
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок = Fundamentals of surface and thin film analysis : пер. с англ. / Л. Фелдман, Д. Майер ; ред. В. В. Белошицкий. – М. : Мир, 1989. – 342 с.
539 Ф374
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.16
Тезаурус = Физика : твердых тел : тонких пленок, поверхности и границы раздела
950456 Кх
951866 Кх
1002970 Кх
УДК 539 Ф374
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок = Fundamentals of surface and thin film analysis : пер. с англ. / Л. Фелдман, Д. Майер ; ред. В. В. Белошицкий. – М. : Мир, 1989. – 342 с.
539 Ф374
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.16
Тезаурус = Физика : твердых тел : тонких пленок, поверхности и границы раздела
950456 Кх
951866 Кх
1002970 Кх