Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Елисеев, А. А. - Методы исследования дефектов структуры полупроводников
Елисеев, А. А. - Методы исследования дефектов структуры полупроводников
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор: Елисеев, А. А.
Методы исследования дефектов структуры полупроводников : учебное пособие
Издательство: Моск. ин-т хим. машиностроения (МИТХТ), 1983 г.
ISBN отсутствует
Автор: Елисеев, А. А.
Методы исследования дефектов структуры полупроводников : учебное пособие
Издательство: Моск. ин-т хим. машиностроения (МИТХТ), 1983 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
УДК 537 Е515
Елисеев, А. А.
Методы исследования дефектов структуры полупроводников : учебное пособие / А. А. Елисеев, М-во высш. и среднего спец. образования РСФСР, Моск. ин-т хим. машиностроения. – М. : Моск. ин-т хим. машиностроения (МИТХТ), 1983. – 88 с.
537 Е515
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.17
Тезаурус = Химия : физическая : кристаллохимия и кристаллография
834922 Кх
УДК 537 Е515
Елисеев, А. А.
Методы исследования дефектов структуры полупроводников : учебное пособие / А. А. Елисеев, М-во высш. и среднего спец. образования РСФСР, Моск. ин-т хим. машиностроения. – М. : Моск. ин-т хим. машиностроения (МИТХТ), 1983. – 88 с.
537 Е515
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.17
Тезаурус = Химия : физическая : кристаллохимия и кристаллография
834922 Кх