Электронный каталог

Диссертация
Д Р15

Радаев, А. А.
Разработка статистического метода контроля дефективности рабочих пластин на основе моделирования выхода годных и его применение при анализе и прогнозировании производства изделий микроэлектроники : 06.27.01-Твердотельная электроника и микроэлектроника : Диссертация...кандидата технических наук / А. А. Радаев, Науч.-производственное предприятие 'САПФИР' . – 1993 . – 182 с. : Прил.: Автореферат .


Тезаурус = ГАСНТИ 47.13.11
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : технология и оборудование для электронного и радиотехнического производства : полупроводниковых приборов, интегральных микросхем и приборов микроэлектроники

Д 7119 Кх