Электронный каталог

Книга
УДК 537 Р245

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение : пер. с англ. / ред. У. Жу, Жонг Лин Уанг . – М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 . – 582 с. - ISBN 978-5-9963-1110-1 .

537 Р245

Тезаурус = ГАСНТИ 29.31.29
Тезаурус = Физика : оптика : формирование оптического изображения, оптические приборы и оптические методы измерений

1082430 Кх