ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Альфорд, Т. Л. - Фундаментальные основы анализа нанопленок
Альфорд, Т. Л. - Фундаментальные основы анализа нанопленок
Книга
Автор: Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Fundamentals of nanoscale film analysis
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Издательство: Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
Автор: Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Fundamentals of nanoscale film analysis
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Издательство: Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
Заказать 
На полку
Книга
УДК 620 А593
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок = Fundamentals of nanoscale film analysis : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер . – М. : Научный мир, 2012 . – 392 с. – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники) . - ISBN 978-5-91522-225-9 .
620 А593
Тезаурус = ГАСНТИ 81.09.30
Тезаурус = Проблемы технических и прикладных наук и отраслей экономики : материаловедение : наноматериалы
1078052 Кх
УДК 620 А593
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок = Fundamentals of nanoscale film analysis : пер. с англ. / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер . – М. : Научный мир, 2012 . – 392 с. – (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники) . - ISBN 978-5-91522-225-9 .
620 А593
Тезаурус = ГАСНТИ 81.09.30
Тезаурус = Проблемы технических и прикладных наук и отраслей экономики : материаловедение : наноматериалы
1078052 Кх