ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Орешков, М. В. - Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии элек...
Орешков, М. В. - Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии элек...
Автореферат
Автор: Орешков, М. В.
Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии элек... : автореферат кандидата технических наук
2012 г.
ISBN отсутствует
Автор: Орешков, М. В.
Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии элек... : автореферат кандидата технических наук
2012 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Автореферат
А О-655
Орешков, М. В.
Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии электрофизическими методами: 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат кандидата технических наук / М. В. Орешков, Нац. исслед. ун-т "МЭИ" . – М., 2012 . – 20 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=3354 .
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Кх - 2 экз.
А О-655
Орешков, М. В.
Разработка измерительного комплекса для контроля и исследования субмикронной КМОЦ технологии электрофизическими методами: 01.04.10 "Физика полупроводников" : автореферат кандидата технических наук / М. В. Орешков, Нац. исслед. ун-т "МЭИ" . – М., 2012 . – 20 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=3354 .
Тезаурус = ГАСНТИ 29.19.31
Тезаурус = Физика : твердых тел : полупроводники
Кх - 2 экз.