Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Морозова, Н. К. - Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работ...
Морозова, Н. К. - Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работ...

Доступно
28 из 30
28 из 30
Книга
Автор: Морозова, Н. К.
Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работ... : методическое пособие по курсу "Физическая химия и технология материалов электронной техники" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательство: Издательский дом МЭИ, 2009 г.
ISBN отсутствует
Автор: Морозова, Н. К.
Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работ... : методическое пособие по курсу "Физическая химия и технология материалов электронной техники" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательство: Издательский дом МЭИ, 2009 г.
ISBN отсутствует
Книга
УДК 54 М801
Морозова, Н. К.
Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работа N5 : методическое пособие по курсу "Физическая химия и технология материалов электронной техники" по направлению "Электроника и микроэлектроника" / Н. К. Морозова, В. А. Дмитриев, Моск. энерг. ин-т (МЭИ ТУ). – М. : Издательский дом МЭИ, 2009. – 24 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=772.
54 М801
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.25
Тезаурус = ГАСНТИ 29.31.29
Тезаурус = Химия : физическая
Тезаурус = Химия : физическая : химическая термодинамика, термохимия, равновесия, физико-химический анализ, фазовые переходы, химические реакции
Тезаурус = Физика : оптика : формирование оптического изображения, оптические приборы и оптические методы измерений
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Физическая химия материалов и процессов электронной техники - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Методы расчета характеристик светового поля - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Световое поле - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Физико-химические основы технологических процессов - доп
Кх - 5 экз.
Учз - 2 экз.
Уч.аб. - 23 экз.
УДК 54 М801
Морозова, Н. К.
Контроль структуры полупроводниковых материалов методами световой микроскопии. Лабораторная работа N5 : методическое пособие по курсу "Физическая химия и технология материалов электронной техники" по направлению "Электроника и микроэлектроника" / Н. К. Морозова, В. А. Дмитриев, Моск. энерг. ин-т (МЭИ ТУ). – М. : Издательский дом МЭИ, 2009. – 24 с. – URL: http://elib.mpei.ru/elib/view.php?id=772.
54 М801
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15
Тезаурус = ГАСНТИ 31.15.25
Тезаурус = ГАСНТИ 29.31.29
Тезаурус = Химия : физическая
Тезаурус = Химия : физическая : химическая термодинамика, термохимия, равновесия, физико-химический анализ, фазовые переходы, химические реакции
Тезаурус = Физика : оптика : формирование оптического изображения, оптические приборы и оптические методы измерений
Книгообеспеченность = Профессиональный цикл Б : Вариативная часть : Физическая химия материалов и процессов электронной техники - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Методы расчета характеристик светового поля - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Световое поле - доп
Книгообеспеченность = МЕН : Вариативная часть : Физико-химические основы технологических процессов - доп
Кх - 5 экз.
Учз - 2 экз.
Уч.аб. - 23 экз.