Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1...
Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1...
Экз. чит. зала
Отчет
Автор:
Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1... : НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1... : НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
На полку
Отчет
17020с
Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1.Заключительный отчет : НИР / Ю. А. Мухин, Моск. энерг. ин-т (МЭИ). – М., 1992. – 36 с.
Тезаурус = ГАСНТИ 47.33.31
Тезаурус = ГАСНТИ 47.33.29
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : твердотельные приборы : интегральные микросхемы
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : твердотельные приборы : полупроводниковые приборы, диоды
17020с Кх
17020с
Анализ причин отказов в производстве активных полупроводниковых элементов и интегральных схем.Ч.1.Заключительный отчет : НИР / Ю. А. Мухин, Моск. энерг. ин-т (МЭИ). – М., 1992. – 36 с.
Тезаурус = ГАСНТИ 47.33.31
Тезаурус = ГАСНТИ 47.33.29
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : твердотельные приборы : интегральные микросхемы
Тезаурус = Электроника.Радиотехника : твердотельные приборы : полупроводниковые приборы, диоды
17020с Кх