ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Гуляев, А. М.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
На полку
Отчет
Исследование полупроводниковых структур и физических явлений в них с целью создания физико-технол...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование полупроводниковых структур и физических явлений в них с целью создания физико-технол...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Создание базы данных по радиационному воздействию на силовые биполярные приборы. Ч.1. Заключитель...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Создание базы данных по радиационному воздействию на силовые биполярные приборы. Ч.1. Заключитель...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1993 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1993 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Комплекс контроля семисторов.Ч.2.Заключительный отчет: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Комплекс контроля семисторов.Ч.2.Заключительный отчет: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Гуляев А. М.
Расчет параметров фотоприемников: учебное пособие по курсам "Приемники оптического излучения", "Фотоприемные устройства", "Электроника и микроэлектроника",
Изд-во МЭИ, 1997 г.
ISBN 5-7046-0231-2
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Гуляев А. М.
Расчет параметров фотоприемников: учебное пособие по курсам "Приемники оптического излучения", "Фотоприемные устройства", "Электроника и микроэлектроника",
Изд-во МЭИ, 1997 г.
ISBN 5-7046-0231-2
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Заказать
Книга
Гуляев А. М.
Фотоприемники: Методическое пособие. Лабораторные работы N 1-3 по курсам"Фотоприемные устройства","Приемники оптического излучения"
Изд-во МЭИ, 1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Гуляев А. М.
Фотоприемники: Методическое пособие. Лабораторные работы N 1-3 по курсам"Фотоприемные устройства","Приемники оптического излучения"
Изд-во МЭИ, 1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Каретников И. А.
Топология и конструкция микросхем. Лабораторные работы N 1-4: методическое пособие по курсу "Компоненты интегральных микросхем" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательский дом МЭИ, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх, Учз, Уч.аб.
Каретников И. А.
Топология и конструкция микросхем. Лабораторные работы N 1-4: методическое пособие по курсу "Компоненты интегральных микросхем" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательский дом МЭИ, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх, Учз, Уч.аб.
Отчет
Электронный нос на основе нанокристаллических пленок окислов олова и редкоземельных металлов. Ч.1...: НИР
2017 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Электронный нос на основе нанокристаллических пленок окислов олова и редкоземельных металлов. Ч.1...: НИР
2017 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх