Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Доступно
53 из 54
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
1 из 1
Доступно
27 из 29
Экз. чит. зала
Гуляев, А. М.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
![](http://opac.mpei.ru/OpacUnicode/app/webroot/img//progress.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1994 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Исследование полупроводниковых структур и физических явлений в них с целью создания физико-технол...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование полупроводниковых структур и физических явлений в них с целью создания физико-технол...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Создание базы данных по радиационному воздействию на силовые биполярные приборы. Ч.1. Заключитель...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Создание базы данных по радиационному воздействию на силовые биполярные приборы. Ч.1. Заключитель...: НИР
1992 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1993 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1993 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии получения и исследование электрофизических свойств тонких пленок оксидных с...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка приемных устройств оптического излучения с повышенной надежностью для систем специальн...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
1997 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Комплекс контроля семисторов.Ч.2.Заключительный отчет: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Комплекс контроля семисторов.Ч.2.Заключительный отчет: НИР
1996 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
53 из 54
Книга
Гуляев, А. М.
Расчет параметров фотоприемников: учебное пособие по курсам "Приемники оптического излучения", "Фотоприемные устройства", "Электроника и микроэлектроника", "Акуст...
Изд-во МЭИ, 1997 г.
ISBN 5-7046-0231-2
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Гуляев, А. М.
Расчет параметров фотоприемников: учебное пособие по курсам "Приемники оптического излучения", "Фотоприемные устройства", "Электроника и микроэлектроника", "Акуст...
Изд-во МЭИ, 1997 г.
ISBN 5-7046-0231-2
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
1 из 1
Книга
Гуляев, А. М.
Фотоприемники: Методическое пособие. Лабораторные работы N 1-3 по курсам"Фотоприемные устройства","Приемники оптического излучения"
Изд-во МЭИ, 1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Гуляев, А. М.
Фотоприемники: Методическое пособие. Лабораторные работы N 1-3 по курсам"Фотоприемные устройства","Приемники оптического излучения"
Изд-во МЭИ, 1998 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Физические и технологические основы стабилизации свойств полупроводниковых пленок сложного химиче...: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
27 из 29
Книга
Каретников, И. А.
Топология и конструкция микросхем. Лабораторные работы N 1-4: методическое пособие по курсу "Компоненты интегральных микросхем" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательский дом МЭИ, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Каретников, И. А.
Топология и конструкция микросхем. Лабораторные работы N 1-4: методическое пособие по курсу "Компоненты интегральных микросхем" по направлению "Электроника и микроэлектроника"
Издательский дом МЭИ, 2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Электронный нос на основе нанокристаллических пленок окислов олова и редкоземельных металлов. Ч.1...: НИР
2017 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Электронный нос на основе нанокристаллических пленок окислов олова и редкоземельных металлов. Ч.1...: НИР
2017 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх