ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Тимошенков, С. П.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Книга
Вавилов, В. Д.
Микросистемные датчики физических величин: монография в двух частях
ISBN 978-5-94836-498-8
НТБ МЭИ : Кх, Науч. чит. зал
Вавилов, В. Д.
Микросистемные датчики физических величин: монография в двух частях
Серия: Мир электроники
Техносфера, 2018 г.ISBN 978-5-94836-498-8
НТБ МЭИ : Кх, Науч. чит. зал
Заказать 
На полку
Книга
Тимошенков, С. П.
Надежность технических систем и техногенный риск: учебник и практикум для студентов вузов, обучающихся по инженерно-техническим направлениям
ISBN 978-5-9916-8582-5
НТБ МЭИ : Кх, Учз
Тимошенков, С. П.
Надежность технических систем и техногенный риск: учебник и практикум для студентов вузов, обучающихся по инженерно-техническим направлениям
Серия: Высшее образование
Юрайт, 2021 г.ISBN 978-5-9916-8582-5
НТБ МЭИ : Кх, Учз
Книга
Захаров, Н. П.
Оптико-электронные узлы электронно-вычислительных средств, измерительных приборов и устройств авт...: учебное пособие
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2009 г.
ISBN 978-5-94774-906-9
НТБ МЭИ : Кх
Захаров, Н. П.
Оптико-электронные узлы электронно-вычислительных средств, измерительных приборов и устройств авт...: учебное пособие
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2009 г.
ISBN 978-5-94774-906-9
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Захаров, Н. П.
Оптико-электронные узлы электронно-вычислительных средств, измерительных приборов и устройств авт...: учебное пособие
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011 г.
ISBN 978-5-94774-906-9
НТБ МЭИ : Кх
Захаров, Н. П.
Оптико-электронные узлы электронно-вычислительных средств, измерительных приборов и устройств авт...: учебное пособие
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011 г.
ISBN 978-5-94774-906-9
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Тимошенков, С. П.
Основы теории надежности: учебник и практикум для академического бакалавриата вузов по инженерно-техническим направлениям и специальностям
ISBN 978-5-9916-5280-3
НТБ МЭИ : Кх
Тимошенков, С. П.
Основы теории надежности: учебник и практикум для академического бакалавриата вузов по инженерно-техническим направлениям и специальностям
Серия: Бакалавр. Академический курс
Юрайт, 2015 г.ISBN 978-5-9916-5280-3
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Тимошенков, С. П.
Основы теории надежности: учебник и практикум для академического бакалавриата вузов по инженерно-техническим направлениям и специальностям
ISBN 978-5-534-01196-8
НТБ МЭИ : Кх, Учз
Тимошенков, С. П.
Основы теории надежности: учебник и практикум для академического бакалавриата вузов по инженерно-техническим направлениям и специальностям
Серия: Бакалавр. Академический курс
Юрайт, 2017 г.ISBN 978-5-534-01196-8
НТБ МЭИ : Кх, Учз
Книга
Галперин, В. А.
Процессы плазменного травления в микро- и нанотехнологиях: учебное пособие для вузов по направлению 210100 "Электроника и микроэлектроника"
ISBN 978-5-9963-0032-7
НТБ МЭИ : Кх
Галперин, В. А.
Процессы плазменного травления в микро- и нанотехнологиях: учебное пособие для вузов по направлению 210100 "Электроника и микроэлектроника"
Серия: Нанотехнологии
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2018 г.ISBN 978-5-9963-0032-7
НТБ МЭИ : Кх