Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
26 из 28
Экз. чит. зала
Доступно
16 из 17
Доступно
25 из 27
Экз. чит. зала
Доступно
1 из 1
Экз. чит. зала
Доступно
26 из 27
Экз. чит. зала
Поройков, А. Ю.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:


Доступно
26 из 28
Книга
Поройков, А. Ю.
Кросскорреляционная обработка изображений в оптических методах диагностики потоков и деформаций: учебное пособие по курсам "Компьютерная обработка изображений" по направлению "Электр...
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1966-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Кросскорреляционная обработка изображений в оптических методах диагностики потоков и деформаций: учебное пособие по курсам "Компьютерная обработка изображений" по направлению "Электр...
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1966-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз

Экз. чит. зала
Отчет
Оптико-электронный комплекс измерений 3D смещений и деформаций поверхностей с учетом влияния атмо...: НИР
2013 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Оптико-электронный комплекс измерений 3D смещений и деформаций поверхностей с учетом влияния атмо...: НИР
2013 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
16 из 17
Книга
Поройков, А. Ю.
Основы обработки оптических изображений в библиотеке OpenCV: учебное пособие по курсу "Компьютерная обработка изображений" по направлению 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2019 г.
ISBN 978-5-7046-2122-5
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Основы обработки оптических изображений в библиотеке OpenCV: учебное пособие по курсу "Компьютерная обработка изображений" по направлению 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2019 г.
ISBN 978-5-7046-2122-5
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз

Доступно
25 из 27
Книга
Поройков, А. Ю.
Основы проектирования электронных устройств для задач оптики: учебное пособие по курсу "Проектирование электронной компонентной базы" по направлению "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1987-1
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Основы проектирования электронных устройств для задач оптики: учебное пособие по курсу "Проектирование электронной компонентной базы" по направлению "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1987-1
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз

Экз. чит. зала
Отчет
Разработка алгоритмов цифровой обработки изображений для одновременной диагностики потоков и дефо...: НИР
2018 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка алгоритмов цифровой обработки изображений для одновременной диагностики потоков и дефо...: НИР
2018 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Доступно
1 из 1
Отчет
Разработка метода корреляции фоновых изображений для диагностики деформации крупномасштабных пове...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка метода корреляции фоновых изображений для диагностики деформации крупномасштабных пове...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх

Экз. чит. зала

Доступно
26 из 27
Книга
Поройков, А. Ю.
Разработка электронных устройств на базе ПЛИС: практикум по курсам "Основы разработки электронных устройств на базе ПЛИС" и "Проектирование электронных устройств на базе ПЛИС" д...
Изд-во МЭИ, 2021 г.
ISBN 978-5-7046-2394-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Разработка электронных устройств на базе ПЛИС: практикум по курсам "Основы разработки электронных устройств на базе ПЛИС" и "Проектирование электронных устройств на базе ПЛИС" д...
Изд-во МЭИ, 2021 г.
ISBN 978-5-7046-2394-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз

Экз. чит. зала
Отчет
Разработка, исследование и оптимизация алгоритмов обработки изображений для измерения деформаций ...: НИР
2023 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка, исследование и оптимизация алгоритмов обработки изображений для измерения деформаций ...: НИР
2023 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх