Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Доступно
1 из 1
Экз. чит. зала
Доступно
26 из 28
Доступно
25 из 27
Экз. чит. зала
Доступно
16 из 17
Доступно
26 из 27
Экз. чит. зала
Экз. чит. зала
Поройков, А. Ю.
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
![](http://opac.mpei.ru/OpacUnicode/app/webroot/img//progress.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Доступно
1 из 1
Отчет
Разработка метода корреляции фоновых изображений для диагностики деформации крупномасштабных пове...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка метода корреляции фоновых изображений для диагностики деформации крупномасштабных пове...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Оптико-электронный комплекс измерений 3D смещений и деформаций поверхностей с учетом влияния атмо...: НИР
2013 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Оптико-электронный комплекс измерений 3D смещений и деформаций поверхностей с учетом влияния атмо...: НИР
2013 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
26 из 28
Книга
Поройков, А. Ю.
Кросскорреляционная обработка изображений в оптических методах диагностики потоков и деформаций: учебное пособие по курсам "Компьютерная обработка изображений" по направлению "Электр...
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1966-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Кросскорреляционная обработка изображений в оптических методах диагностики потоков и деформаций: учебное пособие по курсам "Компьютерная обработка изображений" по направлению "Электр...
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1966-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
25 из 27
Книга
Поройков, А. Ю.
Основы проектирования электронных устройств для задач оптики: учебное пособие по курсу "Проектирование электронной компонентной базы" по направлению "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1987-1
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Основы проектирования электронных устройств для задач оптики: учебное пособие по курсу "Проектирование электронной компонентной базы" по направлению "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2018 г.
ISBN 978-5-7046-1987-1
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка алгоритмов цифровой обработки изображений для одновременной диагностики потоков и дефо...: НИР
2018 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка алгоритмов цифровой обработки изображений для одновременной диагностики потоков и дефо...: НИР
2018 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
16 из 17
Книга
Поройков, А. Ю.
Основы обработки оптических изображений в библиотеке OpenCV: учебное пособие по курсу "Компьютерная обработка изображений" по направлению 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2019 г.
ISBN 978-5-7046-2122-5
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Основы обработки оптических изображений в библиотеке OpenCV: учебное пособие по курсу "Компьютерная обработка изображений" по направлению 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника"
Изд-во МЭИ, 2019 г.
ISBN 978-5-7046-2122-5
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/1.gif)
Доступно
26 из 27
Книга
Поройков, А. Ю.
Разработка электронных устройств на базе ПЛИС: практикум по курсам "Основы разработки электронных устройств на базе ПЛИС" и "Проектирование электронных устройств на базе ПЛИС" д...
Изд-во МЭИ, 2021 г.
ISBN 978-5-7046-2394-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
Поройков, А. Ю.
Разработка электронных устройств на базе ПЛИС: практикум по курсам "Основы разработки электронных устройств на базе ПЛИС" и "Проектирование электронных устройств на базе ПЛИС" д...
Изд-во МЭИ, 2021 г.
ISBN 978-5-7046-2394-6
НТБ МЭИ : Кх, Уч.аб., Учз
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/40.gif)
Экз. чит. зала
Отчет
Разработка, исследование и оптимизация алгоритмов обработки изображений для измерения деформаций ...: НИР
2023 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка, исследование и оптимизация алгоритмов обработки изображений для измерения деформаций ...: НИР
2023 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх