ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник авторов
К списку авторов
Кафедра полупроводниковой электроники (ППЭ)
Сортировать по: заглавиюСвязанные описания:
Отчет
Анализ и компьютерное моделирование атомной структуры аморфного углерода. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Анализ и компьютерное моделирование атомной структуры аморфного углерода. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Заказать 
На полку
Отчет
Изучение зависимостей "состав-структура-свойство" алмазоподобных нанокомпозитов. Часть 1. Заключи...: НИР
2015 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Изучение зависимостей "состав-структура-свойство" алмазоподобных нанокомпозитов. Часть 1. Заключи...: НИР
2015 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование взаимосвязи структуры и электрофизических свойств наноструктурированных и нанокомпоз...: НИР
2014 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование взаимосвязи структуры и электрофизических свойств наноструктурированных и нанокомпоз...: НИР
2014 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование возможности создания комплекса методов анализа микро и наноразмерной элементной базы...: НИР
2009 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование возможности создания комплекса методов анализа микро и наноразмерной элементной базы...: НИР
2009 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование высокополевых воздействий на зарядовое состояние подзатворной системы МДП-транзистор...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование высокополевых воздействий на зарядовое состояние подзатворной системы МДП-транзистор...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование нанокомпозиционных материалов методами сканирующей и электронной микроскопии. Ч.1. З...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование нанокомпозиционных материалов методами сканирующей и электронной микроскопии. Ч.1. З...: НИР
2010 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование нанокристаллических и аморфных полупроводниковых пленок и структур на их основе. Ч.1...: НИР
2005 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование нанокристаллических и аморфных полупроводниковых пленок и структур на их основе. Ч.1...: НИР
2005 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование оптических явлений в ИК-диапазоне соединений А2 В6,содержащих фоновые примеси. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование оптических явлений в ИК-диапазоне соединений А2 В6,содержащих фоновые примеси. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование свойств электронно-дырочной плазмы высокой плотности в кристаллических и аморфных по...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование свойств электронно-дырочной плазмы высокой плотности в кристаллических и аморфных по...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование структуры нанокомпозиционных материалов C(SiO) :H. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2004 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование структуры нанокомпозиционных материалов C(SiO) :H. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2004 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование физических процессов на поверхности и межфазных границах разделов в полупроводниковы...: НИР
2002 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследование явлений вызванных разогревом носителей в канале МДП-транзисторов и разработка методо...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследование явлений вызванных разогревом носителей в канале МДП-транзисторов и разработка методо...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Исследования по созданию новых датчиков,систем и методов контроля сред,процессов и изделий. Ч.1. ...: НИР
1999 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Метод мониторинга технологического процесса и повышение надежности микроэлектронных фотоэлектриче...: НИР
2015 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Метод мониторинга технологического процесса и повышение надежности микроэлектронных фотоэлектриче...: НИР
2015 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка и создание источников питания для унифицированного ряда энергоэкономичных светотехниче...: НИР
2011 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка и создание источников питания для унифицированного ряда энергоэкономичных светотехниче...: НИР
2011 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка многоэлементных фотоприемников оптического излучения. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2000 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка основ применения вейвлет и фурье анализа в шумовой спектроскопии для исследования проц...: НИР
2001 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Разработка технологии создания и исследование структурных и электрофизических свойств двух и трех...: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Создание модели перколяционного пробоя аморфных материалов. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Создание модели перколяционного пробоя аморфных материалов. Ч.1. Заключительный отчет: НИР
2006 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Структурные исследования новых композиционных и наноструктурных материалов для электроники и элек...: НИР
2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Структурные исследования новых композиционных и наноструктурных материалов для электроники и элек...: НИР
2008 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Отчет
Электрофизические свойства нанокристаллических пленок и структур на основе полупроводников сложно...: НИР
2011 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Электрофизические свойства нанокристаллических пленок и структур на основе полупроводников сложно...: НИР
2011 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх