Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
Доступно
1 из 1
68 В168
Сортировать по: заглавиюдате издания
Доступно
1 из 1
Книга
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учебное пособие
Изд-во МИСИС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
НТБ МЭИ : Кх
Валянский, С. И.
Современные методы исследования наноструктур. Метод оптической поверхностно-плазмонной микроскопии: учебное пособие
Изд-во МИСИС, 2011 г.
ISBN 978-5-87623-460-5
НТБ МЭИ : Кх
Заказать 
На полку