Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
621.38 Ф737
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, т...
Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostic, technology, curricululm)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, Изд-во МЭИ, 2012 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Флуктуационные и деградационные процессы в полупроводниковых приборах (метрология, диагностика, т...
Fluctuation and degradation processes in semiconductor devices (metrology, diagnostic, technology, curricululm)
МНТОРЭС им. А.С. Попова, Изд-во МЭИ, 2012 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх