Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
621.38 Е912
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Проектирование, виды микросхем, новые направления: Учебное пособие для вузов
Высшая школа, 1978 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Учз, Кх
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Проектирование, виды микросхем, новые направления: Учебное пособие для вузов
Высшая школа, 1978 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Учз, Кх
Книга
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Проектирование, виды микросхем, функциональная микроэлектроника: Учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов
Высшая школа, 1987 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Проектирование, виды микросхем, функциональная микроэлектроника: Учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов
Высшая школа, 1987 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Книга
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Физические и технологические основы, надежность: Учебное пособие для вузов
Высшая школа, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Учз, Кх
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Физические и технологические основы, надежность: Учебное пособие для вузов
Высшая школа, 1977 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Учз, Кх
Книга
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Физические и технологические основы, надежность: Учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов
Высшая школа, 1986 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Ефимов И. Е.
Микроэлектроника: Физические и технологические основы, надежность: Учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов
Высшая школа, 1986 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Книга
Ефимов, И. Е.
Надежность интегральных полупроводниковых схем
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов, И. Е.
Надежность интегральных полупроводниковых схем
Серия: Надежность. Качество
Изд-во стандартов, 1969 г.ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимов, И. Е.
Надежность твердых интегральных схем
Изд-во стандартов, 1979 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов, И. Е.
Надежность твердых интегральных схем
Изд-во стандартов, 1979 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимов И. Е.
Основы микроэлектроники: учебник
Лань-Пресс, 2008 г.
ISBN 978-5-8114-0866-5
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов И. Е.
Основы микроэлектроники: учебник
Лань-Пресс, 2008 г.
ISBN 978-5-8114-0866-5
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимов И. Е.
Основы микроэлектроники: Учебник для вузов по специальностям "Радиосвязь и радиовещание", "Автоматическая электросвязь" и "Многоканальная электросвязь"
Высшая школа, 1983 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Ефимов И. Е.
Основы микроэлектроники: Учебник для вузов по специальностям "Радиосвязь и радиовещание", "Автоматическая электросвязь" и "Многоканальная электросвязь"
Высшая школа, 1983 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Уч.аб., Учз, Кх
Книга
Ефимов, И. Е.
Основы микроэлектроники: учебное пособие для студентов электротехнических институтов связи
Связь, 1975 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов, И. Е.
Основы микроэлектроники: учебное пособие для студентов электротехнических институтов связи
Связь, 1975 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимов, И. Е.
Современная микроэлектроника
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов, И. Е.
Современная микроэлектроника
Серия: Массовая б-ка инженера
Советское радио, 1973 г.ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимова, З. И.
Сырьевые запасы, добыча урана и производство урановых концентратов в основных капиталистических с...
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимова, З. И.
Сырьевые запасы, добыча урана и производство урановых концентратов в основных капиталистических с...
Серия: АИНФ (Атомная информация)
ЦНИИатоминформ, 1972 г.ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Книга
Ефимов, В. М.
Электронно-оптическая фотосъемка в физическом эксперименте
Наука, 1978 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Ефимов, В. М.
Электронно-оптическая фотосъемка в физическом эксперименте
Наука, 1978 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх