ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
620 А593
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Fundamentals of nanoscale film analysis
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
НТБ МЭИ : Кх
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок
Fundamentals of nanoscale film analysis
Научный мир, 2012 г.
ISBN 978-5-91522-225-9
НТБ МЭИ : Кх
Заказать 
На полку