ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
539 Ф374
Сортировать по: заглавиюдате издания
Заказать 
На полку
Книга
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Fundamentals of surface and thin film analysis
Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Фелдман, Л.
Основы анализа поверхности и тонких пленок
Fundamentals of surface and thin film analysis
Мир, 1989 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх