ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
537 С716
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Спенс, Дж.
Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Наука, 1986 г.
ISBN отсутствует
НТБ МЭИ : Кх
Заказать 
На полку