ВЕРСИЯ ДЛЯ СЛАБОВИДЯЩИХПоиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Справочник индексов УДК
К списку индексов УДК
537 Р245
Сортировать по: заглавиюдате издания
Книга
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
НТБ МЭИ : Кх
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013 г.
ISBN 978-5-9963-1110-1
НТБ МЭИ : Кх
Заказать 
На полку